We gebruiken cookies om de ervaring met de Bookmate-website en onze aanbevelingen te verbeteren.
Lees onze cookiebeleid voor meer informatie.
Accepteer alle cookies
Cookie-instellingen
Svg Vector Icons : http://www.onlinewebfonts.com/icon Er is iets misgegaan. Probeer het opnieuw.
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology, David Cox
en
David Cox

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Meld me wanneer het boek is toegevoegd
Dit boek lezen upload een EPUB- of FB2-bestand naar Bookmate. Hoe kan ik een boek uploaden?
This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology. Beginning with a description of the currently available instruments including the new addition to the field of plasma-based sources, it then gives an overview of ion solid interactions and how the different types of instrument can be applied. Chapters then describe how these machines can be applied to the field of materials science and device fabrication giving examples of recent and current activity in both these areas.
meer
Dit boek is momenteel niet beschikbaar
155 afgedrukte pagina’s
Hebt u het al gelezen? Wat vindt u ervan?
👍👎
fb2epub
Sleep je bestanden hiernaartoe (maximaal 5 per keer)